能量分散型荧光X射线元素分析仪 JSX-3400RⅡ
2016-10-31 16:04 点击:1330
品牌:日本电子(JEOL)
产品型号: JSX-3400RⅡ
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能量分散型荧光X射线元素分析仪 JSX-3400RⅡ
JSX-3400RⅡ是日本电子株式会社推出的08年新一代高性能能量分散型荧光X射线元素分析仪。该设备具有出众性能指针,不仅能很好对应RoHS指令、ELV指令和其它环境指令相关元素分析,还对卤素Cl高精度测试分析。 能同时达到无卤测试及ROHS测试。
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主要特点
1. |
实现高灵敏度*微少成分的分析*短时间测定! |
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Ⅰ |
采用新光学系统与高分辨率 Si(Li) 型检测器。检测器分辨率保证在149eV以下。(业界 |
的保证分辩率). |
Ⅱ |
开发的针对RoHS用X射线滤波器。减除了X射线管发出的干扰波峰以外,实现了波 |
峰背景的低减与避免共存元素影响。 |
2. |
内置标配塑料和金属的检量线。用户不需要再做! |
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Ⅰ |
通过设备的校正功能,配置各种检量线长期使用完全有效。一般的保守也特别简单。 |
Ⅱ |
可针对Cl的检量线,检测极限可达9个PPM,达到无卤测试要求。 |
3. |
简单方便的操作系统 |
2 |
Ⅰ |
按一键就完成测定!自动保存结果。一键生成报告 |
4. |
材料元素 Monitoring 系统。 |
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Ⅰ |
实现样品形状/厚度/面积和材料性质补正都自动进行。在业界最多补正功能。满足样 |
品基材多样性需求。 |
5. |
采用300mmφ 大型样品室,自动样品样品仓门。 |
3 |
Ⅰ |
大样品可以直接放入??品室。自动样品仓门更好密封样品室。 |
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其他功能
1. |
分析?果?蟾孳??:?y?自?颖4娼Y果,?K可一?生成?蟾妗#?伺洌?/td>
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→
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2. |
??分析??(可?) |
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Ⅰ |
?o?焊?和Sn焊料中的Pb分析非常困?,使用???可以??芜M行非破?姆治觯?K |
?行??雍穸刃拚?治?蚀_。 |
3. |
??分析??(可?) |
23 |
Ⅰ |
非破??y量?o?解Ni??又械?b,Cd?行??雍穸刃拚?治?蚀_。成功地去除了背底 |
的影?。 |
Ⅰ |
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技????/strong>
元素???/td>
| Na11 - U92 |
解析度 |
保?149ev 以下(JSX-3400R是目前市面上解析度之桌上型XRF) |
X射?管 |
5-50kV, 1mA, 50W |
靶材 |
Rh靶 |
?V波?C?? |
4?自?咏?Q(包括Open) |
准直器 |
1mmΦ,3mmΦ, 7mmΦ |
探?y器 |
液氮?冷型Si(Li)半??w探?y器 |
液氮 |
3升(消耗量1升/日以下)?H使用 |
?悠肥页叽?/td>
| 300 mmΦ x 150mmH |
?悠肥噎h境 |
大?猓 真空(可?)
|
作?I系? |
Windows XP,19寸彩色?示器 |
主要附件 |
能量校正?悠???度校正?悠??z查?悠?/td>
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??潆?源 |
?蜗?C100V±10%,?蜗?C220V±10% |
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联系方式